两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 17573-2000《半导体器件 分立器件和集成电路 验收和可靠性》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 17573-2002《半导体器件 分立器件和集成电路 验收和可靠性》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 17573-2004《半导体器件 分立器件和集成电路 验收和可靠性》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 4589.1-2008《半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总要求和等级》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 4589.1-2010《半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总要求和等级》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 4589.1-2012《半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总要求和等级》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 4937.14-2020《半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：密封》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 4937.14-2022《半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：密封》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 4937.14-2024《半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：密封》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 17573-2006《半导体器件 分立器件和集成电路 验收和可靠性》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 17573-2008《半导体器件 分立器件和集成电路 验收和可靠性》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 17573-2010《半导体器件 分立器件和集成电路 验收和可靠性》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 4589.1-2014《半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总要求和等级》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 4589.1-2016《半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总要求和等级》状态：现行
两用物项出口管制检测 领域国家标准，GB/T 4589.1-2018《半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总要求和等级》状态：现行
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